半導体信頼性技術委員会/半導体信頼性技術ガイドラインセミナー

「Si/SiC/GaN パワー半導体の信頼性試験の標準化最前線」
2019年2月8日(金)@名古屋

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特別参加でお申し込みされる場合は、「特別参加」をチェックしてください。なお、会員・非会員の確認は、JEITAホームページからご確認ください。
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参加費は、セミナー開始前に「事前支払い」をお願いしております。請求書を発行し、選択いただいた方法でお送りいたします。
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規格購入① EDR-4711A「個別半導体信頼性認定ガイドライン」 購入をご希望の方はチェックしてください。なお、特別参加の場合は、5冊セットが付いていますので、チェックする必要はございません。
規格購入② EDR-4712/100「SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法(Part1:結晶欠陥の分類)」 購入をご希望の方はチェックしてください。なお、特別参加の場合は、5冊セットが付いていますので、チェックする必要はございません。
規格購入③ EDR-4712/200「SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法(Part2:Part 2:光学検査手法によるSiCエピタキシャル層欠陥の検査方法)」 購入をご希望の方はチェックしてください。なお、特別参加の場合は、5冊セットが付いていますので、チェックする必要はございません。
規格購入④ EDR-4712/300「SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法(Part3:フォトルミネッセンス法によるSiCエピタキシャル層欠陥の検査方法)」 購入をご希望の方はチェックしてください。なお、特別参加の場合は、5冊セットが付いていますので、チェックする必要はございません。
規格購入⑤ EDR-4713「化合物パワー半導体信頼性試験方法ガイドライン」 購入をご希望の方はチェックしてください。なお、特別参加の場合は、5冊セットが付いていますので、チェックする必要はございません。
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■個人情報保護について
※ご参加いただきました方の個人情報は、本セミナーの受付、JEITA主催セミナーのご案内、
 セミナーアンケートでの質疑回答のために使用いたします。
 これら以外の目的で使用することはございません。
※JEITAの個人情報保護方針につきましては下記をご参照ください。 
 http://www.jeita.or.jp/japanese/privacy/

<開催概要>
■日時:2019年2月8日(金)9:30~16:45(開場 9:00)
■場所:TKP名古屋伏見ビジネスセンター 会議室7A
(〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦2丁目8-26 宮井名古屋ビル7F)

https://www.kashikaigishitsu.net/facilitys/bc-nagoya-fushimi/access/


■参加費(税込)
参加区分 金額
JEITA会員 20,000円
JEITA非会員(一般) 25,000円
学生 3,000円
特別参加 42,000円
<特別参加について>
 聴講は2名まで可能です。
 また、JEITA規格(EDR-4711A、EDR-4712/100,200,300、EDR-4713の5冊)を
 1セットお付けします。
※JEITA会員・非会員の区分は、下記にてご確認ください。(特別参加の場合、区分不要)
(URL)http://www.jeita.or.jp/cgi-bin/member/list.cgi


JEITA規格の特別頒布について
半導体信頼性技術委員会で発行する下記の規格を、セミナー参加者限定価格で販売いたします。
規格・ガイドライン名 規格番号 一般頒布価格 特別頒布価格
個別半導体信頼性認定ガイドライン EDR-4711A 8,208円 6,500円
SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法
(Part1:結晶欠陥の分類)
EDR-4712/100 4,320円 3,500円
SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法
(Part2:光学検査手法によるSiCエピタシャル層欠陥の検査方法)
EDR-4712/200 5,184円 4,000円
SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法
(Part3:フォトルミネッセンス法による
     SiCエピタシャル層欠陥の検査方法)
EDR-4712/300 5,292円 4,000円
化合物パワー半導体信頼性試験方法ガイドライン EDR-4713 5,616円 4,500円